<ctx:context-object xsi:schemaLocation="info:ofi/fmt:xml:xsd:ctx http://www.openurl.info/registry/docs/info:ofi/fmt:xml:xsd:ctx" timestamp="2026-06-23T07:21:22Z" xmlns:xsi="http://www.w3.org/2001/XML" xmlns:ctx="info:ofi/fmt:xml:xsd:ctx"><ctx:referent><ctx:identifier>info:oai:khub.utp.edu.my:20586</ctx:identifier><ctx:metadata-by-val><ctx:format>info:ofi/fmt:xml:xsd:journal</ctx:format><ctx:metadata><jnl:journal xsi:schemaLocation="info:ofi/fmt:xml:xsd:journal http://www.openurl.info/registry/docs/info:ofi/fmt:xml:xsd:journal" xmlns:jnl="info:ofi/fmt:xml:xsd:journal"><jnl:authors><jnl:author><jnl:aulast>Rahman</jnl:aulast><jnl:aufirst>Haniff Abdul</jnl:aufirst><jnl:au>Rahman, Haniff Abdul</jnl:au></jnl:author><jnl:author><jnl:aulast>Rizal</jnl:aulast><jnl:aufirst>Muhammad</jnl:aufirst><jnl:au>Rizal, Muhammad</jnl:au></jnl:author><jnl:author><jnl:aulast>Ghani</jnl:aulast><jnl:aufirst>Jaharah A.</jnl:aufirst><jnl:au>Ghani, Jaharah A.</jnl:au></jnl:author><jnl:author><jnl:aulast>Mazlan</jnl:aulast><jnl:aufirst>Muhammad Amirul Syahfikri</jnl:aufirst><jnl:au>Mazlan, Muhammad Amirul Syahfikri</jnl:au></jnl:author><jnl:author><jnl:aulast>Nuawi</jnl:aulast><jnl:aufirst>Mohd Zaki</jnl:aufirst><jnl:au>Nuawi, Mohd Zaki</jnl:au></jnl:author><jnl:author><jnl:aulast>Haron</jnl:aulast><jnl:aufirst>Che Hassan Che</jnl:aufirst><jnl:au>Haron, Che Hassan Che</jnl:au></jnl:author><jnl:author><jnl:aulast>Suliman</jnl:aulast><jnl:aufirst>Mohd Nur Alfath</jnl:aufirst><jnl:au>Suliman, Mohd Nur Alfath</jnl:au></jnl:author><jnl:author><jnl:aulast>Zelun</jnl:aulast><jnl:aufirst>Abdul Hadi Mehamud</jnl:aufirst><jnl:au>Zelun, Abdul Hadi Mehamud</jnl:au></jnl:author></jnl:authors><jnl:issn>22897232</jnl:issn><jnl:title>Jurnal Tribologi</jnl:title><jnl:date>2022</jnl:date><jnl:volume>33</jnl:volume><jnl:pages>137 - 147</jnl:pages><jnl:atitle>Semiconductor strain gauges as potential replacement to metal foil for cutting force measurement in machining process</jnl:atitle><jnl:genre>article</jnl:genre></jnl:journal></ctx:metadata></ctx:metadata-by-val></ctx:referent></ctx:context-object>